元素成分分析
適合在過(guò)程控制現(xiàn)場(chǎng)或中心實(shí)驗(yàn)室,分析各種樣品中碳(C)到镅(Am)之間元素的含量。憑借獨(dú)特的HighSense探測(cè)器,分析研發(fā)部門(mén)的復(fù)雜樣品也不在話(huà)下
電子顯微鏡分析儀QUANTAX EBSD系統(tǒng)與廣受歡迎的OPTIMUS TKD探頭相結(jié)合,是用于分析SEM中納米材料的最佳晶體學(xué)解決方案