探針式輪廓儀

一款高精度表面形貌測量儀器，通過接觸式探針技術(shù)實現(xiàn)納米級垂直分辨率的臺階高度、粗糙度和三維形貌分析，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜及材料科學(xué)研究領(lǐng)域。
布魯克針Dektak XTL探針式輪廓儀對300mm尺寸樣品進行優(yōu)化，用于質(zhì)量保證/質(zhì)量分析的探針式輪廓儀
布魯克DektakXT探針式輪廓儀(臺階儀)的行業(yè)金標(biāo)準(zhǔn)