納米力學測試系統

Hysitron TI 990納米壓痕儀
一款高精度力學測試儀器，結合納米壓痕與原位成像功能，可測量材料硬度、彈性模量、蠕變和斷裂韌性等力學性能，廣泛應用于材料科學、薄膜和微電子等領域。
  • 產品品牌: Bruker公司
  • 產品產地: 德國
  • 應用領域: 先進材料研發(fā)薄膜與涂層、復合材料、能源材料、半導體與微電子、低介電常數（low-k）材料、生物醫(yī)學材料、骨骼、牙齒、植入物、細胞與生物薄膜、地質與能源、頁巖、陶瓷、金屬合金、晶界效應的納米力學
  • 產品簡介: Hysitron TI 990以高靈敏度、穩(wěn)定性和多功能性成為納米力學研究領域的標桿設備。

Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統模塊化方面取得了顯著進步，從而實現了比以前更多、更好的研究。


強大的基礎配置


Hysitron TI 990基本配置圖示

  1. 1.用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭
  2. 2.高分辨率、彩色光學顯微鏡
  3. 3.專利的低噪聲 2D 電容式傳感器
  4. 4.計量級花崗巖框架確保測試穩(wěn)定性
  5. 5.集成主動減振系統
  6. 6.Performech III 控制器
  7. 7.減振底座的抗噪能力提高了 50 倍
  8. 8.多層環(huán)境隔離罩
  9. 9.俯視樣品臺成像
  10. 10.使用 XPM II 超高速納米壓痕進行性能成像
  11. 11.動態(tài)納米壓痕
  12. 12.帶有可定制面板的模塊化外殼
  13. 13.通用樣品夾具
  14. 14.高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%


擁有更多的測試模式

TI 990 具有增強的測量功能、更高的樣品靈活性、更簡單的系統設置和更簡化的操作，是適用于各種應用的優(yōu)秀表征解決方案。無論您需要提高聚合物薄膜的精度、提高組合材料科學的測試帶寬，還是需要對全 300 毫米半導體晶圓進行多參數測量分析，TI 990 都能滿足您的各種測試需求。